Väikeste muundamise jälgimissüsteem
Contact Info
- Aadress:, Sihtnumber:
- Kontakt: 王先生
- Tel:18910132037
- E-post:1322188373@qq.com
Muud tooted
FTDW-3A mitmekülgne mikrodeformatsiooni mõõtmistööriistakomplekt
I. Ülevaade
Selle süsteemi saab kasutada tammide deformatsiooni jälgimisel, raudtee jälgimisel, mäetõrjude jälgimisel, sildide jälgimisel, kõrgete hoonete jälgimisel jne ning see on ideaalne süsteem hoonete deformatsiooni automaatseks jälgimiseks. Lisaks spetsiaalset mõõtmisraami saab see toode kasutada raudteelehe kõrguse ja raieotsa tasalugematuse mõõtmiseks.
Optilise pildi põhineva mikrodeformatsiooni automaatse jälgimissüsteemi peamüürkasutab optilise pildi meetodit ning koosneb optilisest sihvustest ja pildistusmõõtmissüsteemist. See analüüsib mõõtmatava objekti väikest deformatsiooni optilise sihvu pildil põhineval sensooril.
See saab mitte ainult mõõta objekti väikest deformatsiooni, vaid ka korraga objekti värinust. See saab anda mõõtmatava objekti sunnitud värinustahedust, sissetõmbetahaarat ja amplituudi ning spektrianalüüsi kaudu saab arvutada tabamuskordaja, võimsuspeami ja muud parameetrid. Süsteemi riistvara, tarkvara ja lisavarude arv ja spetsifikatsioonid saab kohandada projekti vajaduste järgi.
Selle seadme kasutamine pikka aega jätkuva jälgimise korral on mugav kaugjälgimiseks ning see sobib pikka aega jätkuvatele jälgimistele ja lühikestele jälgimistöötle jahtmatud, juhtmestikuta väljakuttes. See on varustatud intelligentsete funktsioonide nagu kaugjälgimine, mõõtmisülesannete automaatne täitmine, mõõtmistulemuste reaegeline hinnang ja deformatsiooni suuna reaegeline kuvamine. Kõikvõrguga ühendatud arvutilt saab kätte väljakoha andmeid.
II. Tööküsimus deformatsiooni jälgimisel
Spetsiaalset sihvu kinnitatakse mõõtmatavale objektile, nii et sihvus ja mõõtmatav objekt moodustavad ühise värinussüsteemi, mis teisendab värinuse spetsiifilise lainepikkusega valguse värinusteks. Optilise analüüsisüsteemi kaudu analüüsitakse mõõtmatav valgussignaal spetsiaalsette kõrgetasemelise tööstusliku CCD-sensorile. Sihvu keskpunkti koordinaadi muutuste CCD-pildil tuvastamisel saab täpselt mõõda mõõtmatava objekti pikk- ja sirgikiirde nihkeid ja nende vastavust ajaga. Süsteemi K-väärtused (Kx, Ky), mis tähendavad, kui suur on tegelik nihke iga CCD pikslit jaoks, saab määrata enne mõõtmist kalibreerimisel.
III. Tehnilised parameetrid deformatsiooni jälgimisel:
1. Võimalus korraga teha kahemõõtmelisi mõõtmisi ;
2. Mõõtmiskaugus: 5 m kuni 500 m ;
3. Sagedusreaktsioon: 0 kuni 50 Hz ;
4. Mõõtmisala: kuni 1 m ;
5. Mõõtmise mittetäpsus: 0,1 ‰ mõõtmisalast ;
6. Näidusaeg: mitme astmega eeltestitud. Samuti on võimalik kasutada automaatset mõõtmistöötlemist ;
7. Töötemperatuur: -20 °C kuni 40 °C, suhteline niiskus: ≤90 % ;
8. Töötleb akud.
IV. Seadme omadused deformatsiooni jälgimisel:
1. See jälgimismeetod võimaldab täpselt mõõta väikseid deformatsioone 1000 meetri kaugusel asuvatele objektidele ning on täpsem kui sarnased seadmed ;
2. Kogu seadme tööstuslik disain sobib pikka aega jätkuvale väljakujalõigele ja see on asendamata üldiste totaalsihtide, teodite jne meetoditega ;
3. See süsteem on mugav kaugjälgimiseks ning sobib pikka aega jätkuvatele jälgimistele ja lühikestele jälgimistöötle jahtmatud, juhtmestikuta väljakuttes ;
4. Saame arendada klientide vajaduste järgi tarkvara, mis sisaldab intelligentsemaid funktsioone nagu mõõtmistulemuste reaegeline hinnang ja deformatsiooni suuna reaegeline kuvamine.
| Valdkonna kategooria: | Chemicals/Chemical Machinery/Papermaking Testing Instruments |
|---|---|
| Tootekategooria: | |
| Kaubamärk: | |
| Spetsifikatsioon: | |
| Laoseis: | |
| Päritolu: |
