Система моніторингу мікродеформацій
Contact Info
- Адреса:, Індекс:
- Контакт: 王先生
- Тел.:18910132037
- Ел. пошта:1322188373@qq.com
Інші продукти
FTDW-3A багатофункціональна система для вимірювання мікродеформацій
І. Загальний опис
Дана система може застосовуватися для контролю деформацій дамби, моніторингу залізниць, сповзань гірських схилів, мостів та високих будівель, і є ідеальною системою для автоматичного моніторингу деформацій будівель. Крім того, якщо встановити спеціальний вимірювальний стій, цей прилад можна використовувати для вимірювання нерівності висоти та напрямку рельс.
Основний блок автоматичної системи моніторингу мікродеформацій на основі оптичної зображення побудований на принципі оптичної зображення, що складається з оптичної мішені та системи іміджного вимірювання. Він аналізує мікродеформацію вимірюваного об'єкта за допомогою зображення, яке створюється оптичною мішенню, закріпленою на вимірюваному об'єкті, на сенсорному пристрої.
Він може не лише вимірювати мікродеформацію об'єкта, але й одночасно вимірювати коливання об'єкта. Можна визначити примусову частоту коливань, власну частоту та амплітуду вимірюваного об'єкта, а за допомогою спектрального аналізу отримати такі параметри, як коефіцієнт удару, спектр потужності тощо. Конкретна конфігурація апаратного забезпечення, програмного забезпечення, кількості та специфікацій додаткових компонентів системи може бути визначена залежно від потреб проекту.
Цей прилад зручний для реалізації дистанційного моніторингу при довгостроковому моніторингу, підходить для довгострокового моніторингу та короткострокових спостережень у умовах польових робіт без персоналу та неможливості прокладання кабелів. Він має інтелектуальні функції, такі як дистанційний моніторинг, автоматичне виконання циклу вимірювань, реальне оцінювання результатів вимірювань, реальне відображення тенденцій деформацій. Дані з місця проведення вимірювань можна збирати з будь-якого комп'ютера, що має доступ до Інтернету.
ІІ. Принцип роботи при використанні для моніторингу деформацій
Спеціальна мішень закріплюється на вимірюваному об'єкті, що дозволяє мішені поєднатися з вимірюваним об'єктом для створення резонансу, перетворюючи коливання на коливання джерела світла певної довжини хвилі. За допомогою оптичної системи аналізу вимірюваний світловий сигнал аналізується спеціальним високоточним промисловим CMOS-датчиком. Визначаючи зміну центральних координат зображення мішені на CMOS-датчику, можна точно виміряти поздовжнє та поперечне зміщення вимірюваного об'єкта під дією навантаження та криві відповіді на час. Значення K системи (Kx, Ky), тобто реальне зміщення, яке відповідає одному пікселю на CMOS-датчику, можна калібрувати перед початком вимірювань.
ІІІ. Технічні характеристики при використанні для моніторингу деформацій:
1. Можна одночасно проводити двовимірні вимірювання ;
2. Дістанція вимірювань: 5 м～500 м ;
3. Частотна реакція: 0～50 Гц ;
4. Діапазон вимірювань: максимум 1 м ；
5. Невпевненість: 0,1‰ від діапазону вимірювань;
6. Час вибірки: кілька режимів можна попередньо налаштувати. Також можна використовувати режим автоматичного вимірювання;
7. Температура роботи: -20℃～40℃, відносна вологість: ≤90％ ;
8. Живлення від акумулятора.
ІV. Особливості приладу при використанні для моніторингу деформацій:
1. Цей метод моніторингу дозволяє точно виміряти мікродеформацію об'єкта на відстані до 1000 метрів, точність вимірювань вища, ніж у подібних пристроїв;
2. Промисловий дизайн цілого приладу підходить для довгострокового польового моніторингу, що не може бути замінено стандартними методами вимірювань, такими як загальне теодолітне surveyedвання;
3. Ця система зручна для реалізації дистанційного моніторингу, підходить для довгострокового моніторингу та короткострокових спостережень у умовах польових робіт без персоналу та неможливості прокладання кабелів;
4. За потреби клієнта можна розробити програмне забезпечення з інтелектуальними функціями, такими як реальне оцінювання результатів вимірювань, реальне відображення тенденцій деформацій.
| Категорія галузі: | Chemicals/Chemical Machinery/Papermaking Testing Instruments |
|---|---|
| Категорія продукту: | |
| Бренд: | |
| Специфікація: | |
| На складі: | |
| Походження: |
