Language: Русский Estonia AFM Probes, Tips, and Cantilevers suppliers
войти|регистрация Главная > Supply of accessories for scanning probe microscopes (SPM) — TipsNano > Продукция
Supply of accessories for scanning probe microscopes (SPM) — TipsNano
Детали Продукты
AFM Probes, Tips, and Cantilevers
категория:измерительная техника/оптические приборы
Spec:High Resolution High Accuracy Semicontact / Noncontact / Force Modulation AFM Cantilevers HA_FM series with W2C+ tip conductive coating for long time work in electrical AFM modes, each chip has 2 cantilevers, resonant frequency 114 kHz / 77 kHz, force con
Упаковка:
Использование:Tunneling Microscopy (STM) Surface Potential Microscopy (SPoM) Torsional Resonan
подробнее
The cantilever is a key element of any scanning probe microscope, the properties and quality of which depends on the successful operation of the microscope in General. This is the basic measuring element of many types of probe microscopes. The right choice of the cantilever is one of the most important conditions for obtaining good AFM images. The most important component of AFM (Atomic force microscope) are the scanning probes of the cantilevers. The cantilever is a flexible beam (175х40х4 µm — average data) with a certain stiffness coefficient k (10-3 – 10 N/m), which is a micro needle.
базовая информация о компании
  • Производственная мощность: per
  • Срок поставки:
  • Min.order Количество:  
  • Порт:
  • способ оплаты:
  • Основные рынки:
контактная информация
  • название компания:Supply of accessories for scanning probe microscopes (SPM) — TipsNano
  • контакткое лицо:
  • телефон:3-72-58866111
  • факс:
  • Email:sales@tipsnano.com
  • сайт:
  • строна/город:Estonia
  • адрес:Kristiina 15-214 Tallinn, Estonia
  • почтовый индекс:10131
сделать запрос этому поставщику
Mr  
20 – 3000 букв, только на английский